EFI4.1数码打样实战测试[转]

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EFI4.1数码打样实战测试[转]
	发起人：laowei　　回复数：9　　浏览数：10616　　最后更新：2011/11/9 11:16:42 by BOSS

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2011/9/16 14:38:04

[只看该作者] #1

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文章还不错，不过还是不够详尽。例如在“墨水限值”设置中，C、M、Y、K的值是根据模拟的目标ICC，由EFI程序自动计算出来的，而这个值并不总是合理的，可能导致在后面的第5步校准中出现问题，例如CMY三色混叠的灰阶就会受到墨水限值数值的影响而不能通过一次校准达到较好的灰度平衡，而这个结果应该在第4步的“总墨量限值”时就应该显露端倪了，在墨水限值这一环节，通常需要反复几次试用不同的数值组合来提高后续校准的质量。不管怎样，在线性化校准的过程中，一定要加入人为干预，不要完全依赖程序的自动计算，至少在不同的介质上得以的结果可能会有很大出入，如果线性做不好，那么后面的其它环节等于白做。此文虽然提到了点增益，但并未解释点增益参数对后续校准过程的影响，因此全文仍不够详尽，之所以这样说是因为这些看上去不起眼的小环节恰恰可能左右一次校准流程的成败。很多人往往是跟着程序的提示和自动计算的结果来完成校准流程，这正是那些校准结束后出现各种难以解释的现象的问题所在，很多内行并不愿提及过程控制的细节，因为这些细节才是真正的精髓所在。面对同行提出的问题时，一般只归结为“线性不好”或“重做一遍线性看看”，对于出现问题的人来说，仍是一头雾水，没有任何帮助，所以他们每次进行校准时都是在碰运气，而EFI的一个完整校准流程需要几个小时才能完成，如果结束后发现效果不理想，这几个小时就等于白费了。

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